[发明专利]一种存储器的信息区数据上电自检方法在审
| 申请号： | 202110459587.2 | 申请日： | 2021-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN113012746A | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 钱宗民 | 申请（专利权）人： | 无锡矽杰微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人： | 朱晓林 |
| 地址： | 214000 江苏省无*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及集成电路设计技术领域,公开了一种存储器信息区数据上电自检方法，包括以下步骤：S1：在存储器的信息区中选取M个存储单元，在M个存储单元中分别设置译码位；S2：在向存储器的信息区配置数据时，向M个存储单元的译码位写入一位二进制的校验数据；S3:MCU芯片上电；S4：MCU芯片的运行系统先自动加载存储器的信息区的配置数据，接着提取所述M个存储单元的译码位的校验数据进行译码，如果译码成功则MCU芯片的运行系统继续运行，否则重新执行步骤S4，直至译码成功，在使用时通过对存储器的数据进行自检，在数据出现异常后使MCU芯片的运行系统重新加载配置信息进行译码，避免MCU芯片将错误的数据来配置功能参数，确保MCU芯片运行时不会出现死机。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 信息 数据 自检 方法 | ||
【主权项】：
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