[发明专利]待测试模块的测试电路、方法及装置有效
| 申请号： | 202110487704.6 | 申请日： | 2021-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN113295943B | 公开（公告）日： | 2023-03-24 |
| 发明（设计）人： | 李晶;周奕;张露阳;李文星 | 申请（专利权）人： | 地平线征程（杭州）人工智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京思源智汇知识产权代理有限公司 11657 | 代理人： | 毛丽琴 |
| 地址： | 310051 浙江省杭州市滨江区西*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 公开了一种待测试模块的测试电路、方法及装置。该电路包括：测试数据产生模块和功能安全模块；测试数据产生模块包括：多个测试数据产生单元，每个测试数据产生单元分别与功能安全模块电连接；每个测试数据产生单元用于基于与该测试数据产生单元所支持的数据类型相一致的原始数据，生成与数据类型相一致的测试数据；功能安全模块与待测试模块电连接，用于对测试数据进行校验运算处理，以得到第一处理结果，基于测试数据进行校验运算处理和错误注入处理，以得到第二处理结果；待测试模块用于基于测试数据、第一处理结果、第二处理结果，生成测试结果。本公开的实施例能够实现多路测试，从而能够满足对多路输入进行处理的应用要求。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 模块 电路 方法 装置 | ||
【主权项】：
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