[发明专利]一种径向绝缘子的低温耐压测试方法在审
| 申请号： | 202110497679.X | 申请日： | 2021-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN113075516A | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 徐朝胜;张怀滨;史磊;马兆龙;梁峰;王旋;陈林枝 | 申请（专利权）人： | 合肥聚能电物理高技术开发有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 合肥市科融知识产权代理事务所(普通合伙) 34126 | 代理人： | 李慧 |
| 地址： | 230031 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种径向绝缘子的低温耐压测试方法，包括对径向绝缘子进行冷热冲击，真空检漏、直流电压测试等步骤。采用本发明所述的测试方法，可以有效测量出径向绝缘子在低温下的真空和耐压性能，为超导传输线系统的制造提供保障。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 径向 绝缘子 低温 耐压 测试 方法 | ||
【主权项】：
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