[发明专利]一种FPC微电路弯曲受损程度检定方法、装置及电子设备在审
| 申请号： | 202110503284.6 | 申请日： | 2021-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN113295546A | 公开（公告）日： | 2021-08-24 |
| 发明（设计）人： | 陈宗普;吴焕雄 | 申请（专利权）人： | 武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/20 | 分类号： | G01N3/20;G01N3/06;G01N25/72 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 李佑宏 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种FPC微电路弯曲受损程度检定方法、装置及电子设备。该方法包括当检测到FPC微电路在弯曲状态下通电时，采集FPC微电路的局部红外图像；基于局部红外图像，计算FPC微电路在各弯曲半径下的测量位置的温度参数；比对相同弯曲半径处的各温度参数，将温度变化异常的温度参数对应的测量位置确定为受损位置。本发明实现了在模拟FPC微电路实际使用中弯曲的情形下，通过对弯曲的FPC微电路通以工作电流，来捕获不同弯曲半径位置的发热差异图像，进而实现对微电路的受损程度和受损位置的准确检定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 fpc 电路 弯曲 受损 程度 检定 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
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