[发明专利]路径延迟的测量方法、装置、电子装置和存储介质有效
申请号: | 202110519768.X | 申请日: | 2021-05-13 |
公开(公告)号: | CN112946551B | 公开(公告)日: | 2021-07-20 |
发明(设计)人: | 赵阳;钟锋浩 | 申请(专利权)人: | 杭州长川科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人: | 李洋 |
地址: | 310051 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本申请涉及一种路径延迟的测量方法、装置、电子装置和存储介质,其中,该路径延迟的测量方法包括:获取数字测试通道的源端的波形数据,其中,数字测试通道用于对电子元件进行测试,波形数据是在数字测试通道的末端为开路的状态下得到的;根据波形数据获取波形中的斜率上升的拐点,其中,波形由波形数据确定;根据拐点对应的时间确定测试路径的延迟。通过本申请,解决了相关技术中通过数字测试机的校准系统进行测试路径校准,导致花费时间长、效率低的问题,提高了对测试路径进行校准的效率和精度。 | ||
搜索关键词: | 路径 延迟 测量方法 装置 电子 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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