[发明专利]路径延迟的测量方法、装置、电子装置和存储介质有效
| 申请号： | 202110519768.X | 申请日： | 2021-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN112946551B | 公开（公告）日： | 2021-07-20 |
| 发明（设计）人： | 赵阳;钟锋浩 | 申请（专利权）人： | 杭州长川科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 李洋 |
| 地址： | 310051 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种路径延迟的测量方法、装置、电子装置和存储介质，其中，该路径延迟的测量方法包括：获取数字测试通道的源端的波形数据，其中，数字测试通道用于对电子元件进行测试，波形数据是在数字测试通道的末端为开路的状态下得到的；根据波形数据获取波形中的斜率上升的拐点，其中，波形由波形数据确定；根据拐点对应的时间确定测试路径的延迟。通过本申请，解决了相关技术中通过数字测试机的校准系统进行测试路径校准，导致花费时间长、效率低的问题，提高了对测试路径进行校准的效率和精度。 | ||
| 搜索关键词： | 路径 延迟 测量方法 装置 电子 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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