[发明专利]平面埋容基板微短路的可靠性测试方法有效
| 申请号： | 202110523424.6 | 申请日： | 2021-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN113325295B | 公开（公告）日： | 2022-07-19 |
| 发明（设计）人： | 马洪伟;宗芯如;杨飞 | 申请（专利权）人： | 江苏普诺威电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 昆山中际国创知识产权代理有限公司 32311 | 代理人： | 盛建德;张小培 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种平面埋容基板微短路的可靠性测试方法，包括：S1)将平面埋容基板制成测试样板，测试样板的若干pcs板的外层线路上均制作有pad测试点、待焊接电阻区和引线；S2)利用电测治具及若干pad测试点检测测试样板的短路状态，记录短路不良点；S3)在若干待焊接电阻区中焊上电阻，每一pcs板均与其上的电阻串接构成一子回路，将若干子回路并联构成测试回路，对测试回路进行THB测试，记录测试结果；S4)将若干引线去除，再次检测测试样板的短路状态，记录短路不良点；S5)统计短路不良点数量及不良比例，若落在设计的阈值范围内、平面埋容基板为合格品，反之为不良品。该测试方法的可靠性高、准确度高，可有效检测出平面埋容基板的微短不良现象。 | ||
| 搜索关键词： | 平面 埋容基板微 短路 可靠性 测试 方法 | ||
【主权项】：
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