[发明专利]芯片测试系统、驱动芯片、电子标签及芯片测试方法在审
| 申请号： | 202110545119.7 | 申请日： | 2021-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN113376506A | 公开（公告）日： | 2021-09-10 |
| 发明（设计）人： | 林立家;朱畅 | 申请（专利权）人： | 深圳天德钰科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06K19/077 |
| 代理公司： | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人： | 关雅慧;张小丽 |
| 地址： | 518063 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种芯片测试系统，包括：测试机台，用于电连接一驱动芯片，以输出测试指令至所述驱动芯片，使得所述驱动芯片输出多个功能参数；多个比较单元，每一所述比较单元用于分别电连接所述驱动芯片及所述测试机台，每一所述比较单元用于接收所述多个功能参数中的其中一个功能参数，判断所述功能参数是否位于预设数值范围，并用于输出判断结果至所述测试机台；所述测试机台还用于根据所述多个比较单元输出的多个判断结果判断所述驱动芯片工作正常或工作异常。本申请还提供一种驱动芯片、电子标签及芯片测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 驱动 电子标签 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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