[发明专利]一种用于吸波涂层反射率现场测量的微波探头支架在审

专利信息
申请号: 202110548842.0 申请日: 2021-05-20
公开(公告)号: CN115372382A 公开(公告)日: 2022-11-22
发明(设计)人: 薛昀;彭刚 申请(专利权)人: 重庆测威科技有限公司
主分类号: G01N22/00 分类号: G01N22/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 402260 重庆市江津*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明提供了一种用于吸波涂层反射率现场测量的微波探头支架,包括筒身、支撑、支点以及锁紧结构,所述筒身是支架的主体部分,用于容纳微波探头,并将所述支撑和锁紧结构连成一体;所述筒身前端延伸出多个所述支撑;所述支点位于每个支撑的顶端,支点底部为光滑球形;所述锁紧结构位于筒身的后端,用于固定微波探头。本支架是装备吸波涂层反射率现场测量的辅助装置,可适应复杂表面形状,并确保对同一部位进行多次测量时的姿态一致,极大地便利了现场测试设备微波探头的操作使用,提高了吸波涂层反射率测量结果精度。
搜索关键词: 一种 用于 涂层 反射率 现场 测量 微波 探头 支架
【主权项】:
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