[发明专利]铁电存储器器件及其形成方法在审
申请号: | 202110577128.4 | 申请日: | 2021-05-26 |
公开(公告)号: | CN113299662A | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
发明(设计)人: | 吕俊颉;乔治奥斯韦理安尼堤斯;马可范达尔;杨世海;林佑明 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/11587 | 分类号: | H01L27/11587;H01L27/1159;H01L27/11597 |
代理公司: | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人: | 顾伯兴 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种器件包括多层堆叠、沟道层、铁电层及缓冲层。所述多层堆叠设置在衬底上且包括交替堆叠的多个导电层及多个介电层。沟道层穿透过所述多个导电层及所述多个介电层。铁电层设置在沟道层与所述多个导电层及所述多个介电层中的每一者之间。缓冲层包括金属氧化物,且缓冲层中的一者设置在所述铁电层与所述多个介电层中的每一者之间。 | ||
搜索关键词: | 存储器 器件 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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