[发明专利]一种发光基板及其制备方法、显示装置、检测方法有效
| 申请号： | 202110581719.9 | 申请日： | 2021-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN113327919B | 公开（公告）日： | 2023-08-29 |
| 发明（设计）人： | 张树柏;孙海威;翟明;李沛 | 申请（专利权）人： | 京东方晶芯科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L25/075 | 分类号： | H01L25/075;H01L27/15;H01L23/544;H01L21/66;G09F9/33 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 李娜 |
| 地址： | 100176 北京市大*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种发光基板及制备方法、显示装置、检测方法，涉及显示技术领域。发光基板包括：第一导电层，第一导电层包括多个焊接区，焊接区包括第一焊接子区和第二焊接子区；位于焊接区的第一导电层有至少一个第一凹槽和至少一个第二凹槽，第一凹槽位于第一焊接子区远离第二焊接子区的一侧，第二凹槽位于第二焊接子区远离第一焊接子区的一侧；保护层覆盖第一导电层、第一凹槽和第二凹槽，保护层有贯穿的过孔；多个发光器件，发光器件通过过孔与第一焊接子区和第二焊接子区的第一导电层焊接；第一凹槽和第二凹槽在基底上的正投影与发光器件在基底上的正投影均至少存在非重合区域。该检测方法能够快速准确的检测出发光基板是否发生虚焊问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发光 及其 制备 方法 显示装置 检测 | ||
【主权项】：
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