[发明专利]一种基于多块FPGA进行IC scan chain电路测试的方法有效
| 申请号： | 202110611407.8 | 申请日： | 2021-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN113391190B | 公开（公告）日： | 2023-02-17 |
| 发明（设计）人： | 张益畅 | 申请（专利权）人： | 珠海昇生微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 侯丽燕 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市高新区唐家*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于多块FPGA进行IC scan chain电路测试的方法，采用级联扩容的思想，解决单个FPGA作为SCAN CHAIN pattern的存储实体时存储资源不足的问题，通过自定义的FPGA间的通信握手方式，下一级FPGA可以知道上一级FPGA已完成测试，需要启动本级FPGA工作，并在本级FPGA测试完毕后，通知再下一级FPGA开始工作，本发明采用串联链工作原理，实现了庞大的SCAN CHAIN测试向量测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 fpga 进行 ic scan chain 电路 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于珠海昇生微电子有限责任公司，未经珠海昇生微电子有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110611407.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种全钢智能建筑施工升降平台
- 下一篇：一种新型农业信息化监控装置
