[发明专利]一种芯片的测试装置在审
| 申请号： | 202110612094.8 | 申请日： | 2021-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN113341299A | 公开（公告）日： | 2021-09-03 |
| 发明（设计）人： | 袁峰 | 申请（专利权）人： | 展讯通信（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人： | 周放 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区自*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种芯片的测试装置，所述测试装置包括：基座；第一测试针和第二测试针，所述第一测试针和所述第二测试针安装于所述基座；其中，所述第一测试针与所述第二测试针的长度不同，且所述第一测试针用于测试芯片的第一待测试部，所述第二测试针用于测试芯片的第二待测试部。本申请中，通过在测试装置中设置长度不同的第一测试针和第二测试针，使得该测试装置能够通过两个测试针分别测试芯片中高度不同的第一待测试部和第二待测试部，即该测试装置能够同时测试芯片的第一待测试部和第二待测试部，提高测试的效率，并增大测试装置的应用范围，提高测试装置对芯片的测试结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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