[发明专利]半桥电路性能测试系统及方法有效
| 申请号： | 202110631861.X | 申请日： | 2021-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN113295989B | 公开（公告）日： | 2023-06-16 |
| 发明（设计）人： | 李祥;周建宇;黄少海;党代表 | 申请（专利权）人： | 苏州市运泰利自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3163 | 分类号： | G01R31/3163 |
| 代理公司： | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人： | 王忠浩 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半桥电路性能测试系统，包括用于接入信号的信号输入单元、继电器矩阵单元、用于测试半桥电路输出波形峰值的峰值测试单元、频率测试单元、功率电阻切换单元、网口通信单元、用于建立并联电路的功率电阻、控制端，继电器矩阵单元分别与信号输入单元、峰值测试单元、频率测试单元、功率电阻切换单元、网口通信单元连接，功率电阻切换单元根据半桥电路上MOS管或下MOS管的电阻的导通状态，控制功率电阻与上MOS管或下MOS管并联。在半桥电路工作时，根据半桥电路上MOS管或下MOS管的电阻的导通状态，采用功率电阻、峰值测试单元、频率测试单元的协调运作进行MOS管的导通电阻的测量，提高了测试效率，解决了工作时无法测量MOS管的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 性能 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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