[发明专利]半导体装置的制造方法在审
申请号: | 202110633941.9 | 申请日: | 2015-10-22 |
公开(公告)号: | CN113380928A | 公开(公告)日: | 2021-09-10 |
发明(设计)人: | 安相贞 | 申请(专利权)人: | 安相贞 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/40;H01L33/48;H01L33/62 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;金玲 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开涉及半导体装置的制造方法,半导体元件用支承基板的制造方法的特征在于,包括如下步骤:准备第一基板,该第一基板具备第一面及与第一面相对的第二面;在第一基板形成从第一面侧朝向第二面侧的槽;在槽形成导电部;在第一面侧,将第二基板结合到第一基板;及在第二面侧以与导电部导通的方式形成第一导电焊盘。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安相贞,未经安相贞许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110633941.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基于测量的随机接入配置
- 下一篇:一种背光恒定亮度控制系统