[发明专利]一种用于测试OTP型MCU及其测试方法有效
| 申请号： | 202110639060.8 | 申请日： | 2021-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN113312224B | 公开（公告）日： | 2022-09-13 |
| 发明（设计）人： | 季侠;岳卫杰 | 申请（专利权）人： | 合肥磐芯电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F8/61 |
| 代理公司： | 合肥洪雷知识产权代理事务所(普通合伙) 34164 | 代理人： | 张悦 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市合肥高*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于测试OTP型MCU及其测试方法。本发明中：状态机通过解析模块与外部控制系统进行信息交互，状态机通过总线与CPU电性连接；状态机接收解析模块解析后的数据，进行相应状态转变和相关信号的控制；状态机在测试态时，外部控制系统发送的数据传输至CPU作为运行指令进行测试；状态机在烧录态时用于OTP的烧录，状态机的控制态用于控制配置寄存器的读写。本发明通过在测试时外部控制系统与MCU进行通信，通过特定命令控制状态机，间接控制CPU运行程序，运行的程序通过与外部控制系统通信进行传输，可以根据需要随时修改；并且在测试完成后，可以将相关信息烧录进OTP，减轻测试时重新编排测试程序的时间和精力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 otp mcu 及其 方法 | ||
【主权项】：
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