[发明专利]存储器装置测试及相关联的方法、装置和系统在审
| 申请号： | 202110647130.4 | 申请日： | 2021-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN113889174A | 公开（公告）日： | 2022-01-04 |
| 发明（设计）人： | J·M·约翰逊;D·G·蒙蒂尔斯 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C29/26 | 分类号： | G11C29/26 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王艳娇 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了存储器装置测试以及相关联的方法、装置和系统。一种方法可以包含从所述存储器装置的存储器阵列的多个存储器地址中读取，并将所述多个地址中的每个存储器地址标识为通过或未通过。所述方法可以进一步包含对于每个标识的未通过，将与所述标识的未通过相关联的数据存储在所述存储器装置的缓冲器中。此外，所述方法可以包含将与每个标识的未通过相关联的数据中的至少一些数据传送到所述存储器装置外部的测试器，而不将与每个标识的通过相关联的地址数据传送到所述测试器。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 装置 测试 相关 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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