[发明专利]一种检测方法、装置、电子设备及可读存储介质在审
| 申请号： | 202110668651.8 | 申请日： | 2021-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN113448599A | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 曾健忠 | 申请（专利权）人： | 深圳天狼芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F8/61 | 分类号： | G06F8/61;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 刘永康 |
| 地址： | 518000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请适用于集成电路技术领域，提供了一种检测方法、装置、电子设备及可读存储介质，方法用于检测晶粒，晶粒用于集成电路的设计中，晶粒为多位元的存储结构，位元对应的存储结构中包括用于重复烧录的目标器件，目标器件为熔丝或反熔丝；对晶粒中位元对应的目标器件进行N次烧录；获取进行N次烧录后的烧录结果；将所述烧录结果输入至已训练的类神经网络模型中进行检测，得到检测结果，所述类神经网络模型用于检测所述晶粒是否合格。由于可根据N次烧录结果，通过已训练的类神经网络模型检测晶粒是否合格，得到检测结果，无需将所有位元中的目标器件烧断后再判定晶粒为合格晶粒，从而可节约检测时间，提高了检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 方法 装置 电子设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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