[发明专利]一种光伏跟踪支架阵列运行精度的测量方法和装置有效

专利信息
申请号: 202110676912.0 申请日: 2021-06-18
公开(公告)号: CN113364408B 公开(公告)日: 2023-02-24
发明(设计)人: 孙长江;吴芳和;俞琨;王伟祥;翁凯雷;杨宏毅;李兴龙;沈钱兰;王士涛;李彩霞 申请(专利权)人: 中国电建集团华东勘测设计研究院有限公司;江苏中信博新能源科技股份有限公司
主分类号: H02S20/32 分类号: H02S20/32
代理公司: 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 代理人: 杨用玲
地址: 310014*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及光伏跟踪技术领域,提供光伏跟踪支架阵列运行精度的测量方法和装置,方法包括:光伏跟踪支架阵列持续运行中,每隔设定时间采集一组光伏跟踪支架正面辐照数据,以获得多组光伏跟踪支架阵列的全方位辐照数据,其中,一组光伏跟踪支架正面辐照数据包括同一时间内多个光伏跟踪支架的正面辐照数据;基于正面辐照数据,获取光伏跟踪支架的正面辐照值;根据光伏跟踪支架的正面辐照值,计算光伏跟踪支架阵列的运行精度,以对光伏跟踪支架阵列进行校正。判定光伏跟踪支架的角度偏差引起的辐射差异的精度定,定义光伏跟踪支架阵列的整体跟踪精度,根据测量结果判断光伏跟踪支架或阵列是否需要校正,对光伏跟踪项目的跟踪进度提出明确的改善目标。
搜索关键词: 一种 跟踪 支架 阵列 运行 精度 测量方法 装置
【主权项】:
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