[发明专利]辐射结构在审
申请号: | 202110691657.7 | 申请日: | 2021-06-22 |
公开(公告)号: | CN115513640A | 公开(公告)日: | 2022-12-23 |
发明(设计)人: | 黄文宏 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01Q1/22 | 分类号: | H01Q1/22;H01Q1/38;H01L23/66 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供了一种辐射结构。辐射结构可以包括:第一导电层;第二导电层;阻挡层,设置在所述第一导电层和所述第二导电层之间。其中,所述阻挡层的厚度在0.3微米至3微米的范围内。 | ||
搜索关键词: | 辐射 结构 | ||
【主权项】:
暂无信息
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