[发明专利]监控多元自相关过程的残差MEWMA控制图的可变抽样区间设计方法

摘要

本发明涉及一种监控多元自相关过程的残差MEWMA控制图的可变抽样区间设计方法，本发明有效解决现有的控制图监控效率低下且平均报警时间较长的问题；解决的技术方案包括以下步骤：建立模型；计算过程预测值；计算残差序列；构件统计量、打点量；构建控制图并且利用控制图对打点量进行监控；利用控制图的动态设计方法，对残差MEWMA控制图进行可变抽样区间的动态设计，相比于采用静态残差MEWMA控制图，针对生产过程中在相同的偏移量下能够减小平均报警时间，使得监控效率更高。