[发明专利]一种非环形磁芯无损检测方法及装置在审
| 申请号： | 202110697851.6 | 申请日： | 2021-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN113534023A | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 庞靖;江志滨;王宏鉴;王世伟 | 申请（专利权）人： | 青岛云路先进材料技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙) 11309 | 代理人： | 陈霁 |
| 地址： | 266232 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本说明书涉及磁性材料技术领域，具体涉及一种非环形磁芯无损检测方法及装置。该方法包括如下步骤：获取待检测磁芯的设定磁性能和设定尺寸；根据所述设定磁性能和所述设定尺寸，选择具有第一磁性能和第一结构的U型检测装置；将所述待检测磁芯通过所述两个柱部搭载到所述U型检测装置，以及调整所述待检测磁芯和所述两个柱部之间的相对位置，使得所述两个柱部中每个柱部和所述待检测磁芯之间的接触面积大于所述待检测磁芯的有效截面积；在第一待检部位上缠绕第一导线，并将所述第一导线的两端分别连接到磁性能检测仪的相应端口上，以使所述磁性能检测仪可检测所述待检测磁芯的磁性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 环形 无损 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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