[发明专利]用于测试模组射频性能的测架和射频性能测试系统有效
| 申请号： | 202110699459.5 | 申请日： | 2021-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN113395123B | 公开（公告）日： | 2023-05-12 |
| 发明（设计）人： | 阮海刚;曹振业;陈利欢 | 申请（专利权）人： | 杭州涂鸦信息技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310013 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种用于测试模组射频性能的测架和测试系统，其中，测架包括测试台、屏蔽区域以及用于容置待测模组的容置区；容置区开设在所述测试台上，待测模组包括相连的天线部分和芯片部分，屏蔽区域至少部分覆盖所述待测模组的天线部分。通过设置屏蔽区域，使天线一直处于开路或接近开路的固定状态，从而可以解决环境对天线的影响，解决了相关技术中射频测试不准确的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 模组 射频 性能 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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