[发明专利]电子器件老化试验系统有效
| 申请号： | 202110739083.6 | 申请日： | 2021-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN113406423B | 公开（公告）日： | 2022-09-06 |
| 发明（设计）人： | 周鹏;马超;徐智号;唐朋 | 申请（专利权）人： | 武汉普赛斯电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 武汉维盾知识产权代理事务所(普通合伙) 42244 | 代理人： | 彭永念 |
| 地址： | 430014 湖北省武汉市东湖新技术开*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电子器件老化试验系统，包括壳体，在壳体内设有支架，支架用于承载多个老化试验模块，支架将壳体内腔分隔为进风风道和回风风道；支架上设有多个试验进风口，试验进风口对准老化试验模块，试验进风口连通进风风道和回风风道；进风风道与回风风道之间设有循环风机，以使风在进风风道与回风风道之间往复循环。能够均匀的分配给予各个试验元件的测试环境，确保试验结果的一致性。设置的加热装置、温度传感器、循环风机、电控新风口和主控装置的组合，能够在安全可控的范围内，利用模拟的极限环境，加速得出试验结果。设置的进风压力传感器、回风压力传感器和主控装置的组合，还能够进一步的提高试验的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 电子器件 老化试验 系统 | ||
【主权项】：
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