[发明专利]存储器装置、半导体装置和相关方法在审

专利信息
申请号: 202110747503.5 申请日: 2021-07-02
公开(公告)号: CN113611711A 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 许诺;吴志强 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/11587 分类号: H01L27/11587;H01L27/1159
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 李春秀
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明实施例涉及存储器装置、半导体装置和相关方法。一种存储器装置包含存储器单元、第一导电线、第二导电线、第三导电线及第四导电线。存储器单元经布置成阵列。每一存储器单元包含晶体管及串联连接到晶体管的栅极端子的电容器。第一导电线在第一方向上延伸。每一第一导电线连接到布置于阵列中的相同列中的晶体管的栅极端子。所述第二导电线在所述第一方向上延伸。每一第二导电线连接到布置于所述阵列中的相同列中的晶体管的源极端子。所述第三导电线在所述第一方向上延伸。每一第三导电线连接到布置于所述阵列中的相同列中的晶体管的漏极端子。所述第四导电线在第二方向上延伸。每一第四导电线耦合到布置于所述阵列中的相同行中的所述电容器。
搜索关键词: 存储器 装置 半导体 相关 方法
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