[发明专利]半导体装置在审
申请号: | 202110756311.0 | 申请日: | 2021-07-05 |
公开(公告)号: | CN113921605A | 公开(公告)日: | 2022-01-11 |
发明(设计)人: | 西康一 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L29/06;H01L21/331 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供沟槽栅极的栅极绝缘膜的可靠性提高的半导体装置。半导体装置包含半导体基板、栅极电极和多个沟槽栅极。半导体基板包含有源区域和配线区域。沟槽栅极从有源区域延伸至配线区域。该沟槽栅极在有源区域形成晶体管的一部分。栅极电极设置于配线区域,与沟槽栅极电连接。沟槽栅极的端部位于配线区域。栅极电极以将在沟槽栅极的端部形成的栅极接触部覆盖的方式设置。栅极电极经由栅极接触部而与沟槽栅极电连接。多个沟槽栅极仅沿一个方向延伸。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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