[发明专利]检测电路及检测方法在审
| 申请号： | 202110758286.X | 申请日： | 2021-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN115575734A | 公开（公告）日： | 2023-01-06 |
| 发明（设计）人： | 许杞安 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/52;G01R19/00 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种检测电路及检测方法，检测电路包括：静电防护装置、第一熔丝以及晶体管；其中，所述静电防护装置的第一端与所述第一熔丝的第一端连接，所述静电防护装置与所述第一熔丝的连接端作为第一测试端；所述第一熔丝的第二端与所述晶体管的栅极连接，所述第一熔丝与所述晶体管的连接端作为第二测试端；所述静电防护装置的第二端与所述晶体管的源极、漏极或基底中的至少一者连接，所述静电防护装置与所述晶体管的连接端作为第三测试端。本发明实施例有利于准确测量静电防护装置对晶体管的保护作用。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 电路 方法 | ||
【主权项】：
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