[发明专利]误码率测量装置及误码率测量方法在审
| 申请号： | 202110759370.3 | 申请日： | 2021-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN114221719A | 公开（公告）日： | 2022-03-22 |
| 发明（设计）人： | 城所久生;稻叶裕之 | 申请（专利权）人： | 安立股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/309 | 分类号： | H04B17/309;H04L43/0823 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 李芳华 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 通过链路训练进行被测物的输出波形的加重调整。误码率测量装置(1)具备：数据发送部(4)，将已知波形的测试信号及由通信标准设定的参数值发送至被测物(W)；及比特错误测量部(5a)，测量从所述被测物发送的信号的比特错误，所述数据发送部依次变更所述参数值并发送至所述被测物，所述比特错误测量部测量从与所述参数值对应的所述被测物发送的信号的比特错误，所述误码率测量装置具备在所述比特错误测量部的测量结果中将比特错误最少的参数值判定为所述被测物的输出波形的加重的最佳值的判别部(5b)。 | ||
| 搜索关键词： | 误码率 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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