[发明专利]检查系统和方法在审
| 申请号： | 202110769036.6 | 申请日： | 2021-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN115097535A | 公开（公告）日： | 2022-09-23 |
| 发明（设计）人： | 陈志强;张丽;黄清萍;周勇;丁辉;金鑫;季超 | 申请（专利权）人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01V5/00 | 分类号： | G01V5/00;G01N23/046;G01B15/04 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 白少俊 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：射线源，能够围绕旋转轴线在至少两个扫描位置之间转动，射线源在相邻两个扫描位置之间的转动角度大于每个射线源的相邻靶点相对于旋转轴线的角度；探测器组件；和输送装置，用于承载被检查的物体。射线源和探测器组件能够相对于输送装置沿行进方向移动，从而被检查的物体能够进入检查区域。当射线源位于多个扫描位置中的一个时，射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动并且射线源发射X射线；当射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动预定距离后，射线源围绕旋转轴线转动到多个扫描位置中的另一个。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 系统 方法 | ||
【主权项】：
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