[发明专利]膜片瑕疵检测方法、系统及存储介质在审

专利信息
申请号: 202110805428.3 申请日: 2021-07-16
公开(公告)号: CN113658099A 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 曾建元 申请(专利权)人: 深圳市艾福思自动化设备有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/10;G06T5/00;G06T1/00
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 黄广龙
地址: 518300 广东省深圳市龙华新区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了一种膜片瑕疵检测方法、系统及存储介质,其中,膜片瑕疵检测方法包括:获取膜片的图像,以得到膜片检测图像;对膜片检测图像进行预处理,以得到预处理图像;根据预处理图像和预设瑕疵检测模型得到瑕疵预测结果;若瑕疵预测结果为不合格,对瑕疵预测结果和多个预设瑕疵进行分析比对,以得到膜片瑕疵类型。本申请的膜片瑕疵检测方法,能够取代人工对膜片进行检测,避免人工目检出现误判,提高了检测的效率和准确度。
搜索关键词: 膜片 瑕疵 检测 方法 系统 存储 介质
【主权项】:
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