[发明专利]一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统

摘要

本发明公开了一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统，包括底座，底座的上端设置有夹持机构，夹持机构的上端设置有等径机构，夹持机构包括固定块，固定块固定连接在底座的上表面中心处，固定块的表面上通过轴承转动连接有转杆，本发明的有益效果是：将检测环套接在圆杆的表面上，然后缓缓放开检测环使其自动下落，当检测环下落时插块与生长管的内壁接触，当生长管内壁的内径发生变化时，进而会导致生长管内壁对插块的压力发生变化，最终压力反馈到动态压力感应器，进而通过动态压力感应器的读数可得出生长管内径是否等径，通过对生长管的内径进行检测，防止生长管内径存在变化导致对锗晶体的生长造成影响。