[发明专利]一种半导体晶圆保护撕膜结构及操作方法有效

专利信息
申请号: 202110821274.7 申请日: 2021-07-20
公开(公告)号: CN113478947B 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 张乔栋;程凯;袁泉 申请(专利权)人: 江苏纳沛斯半导体有限公司
主分类号: B32B43/00 分类号: B32B43/00
代理公司: 深圳国联专利代理事务所(特殊普通合伙) 44465 代理人: 汪丽丽
地址: 223001 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种半导体晶圆保护撕膜结构,包括有工作台与撕膜仓,所述撕膜仓设置于所述工作台的上方,用于粘撕半导体圆晶保护膜。本发明中,两个压辊呈同向转动,用于挤压并协助条形传送带上的半导体晶圆移动,压辊与转辊表面套接的胶带,可以对挤压的半导体晶圆保护膜进行粘接,胶带与压辊同向转动,但胶带粘接的半导体晶圆保护膜可以被胶带粘接着向上移动,两个压辊使得半导体晶圆在条形传送带上横向,从而达到将其半导体晶圆保护膜与半导体晶圆拉扯揭开,加工效率块,可以对半导体晶圆进行连续撕膜作业,并通过液压杆的带动,预先调节压辊的高度,后期也无需进行高度调整,防止压辊因频繁调节,从而出现调节误差,对半导体晶圆的挤压损坏。
搜索关键词: 一种 半导体 保护 膜结构 操作方法
【主权项】:
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