[发明专利]一种测试基板、LLCR测量方法及测试基板测试方法在审
| 申请号： | 202110841032.4 | 申请日： | 2021-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN113539349A | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 张迎华;蒲嘉鹏;肖晟熙;郑磊;刘佳劲;刘喆旻 | 申请（专利权）人： | 曙光信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 衡滔 |
| 地址： | 300450 天津市滨海高新区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种测试基板、LLCR测量方法及测试基板测试方法，属于计算机技术领域。该测试基板包括：基板、内存插槽以及测试端子；内存插槽，设置于所述基板上，用于连接内存；测试端子，设置于所述基板上，所述测试端子的数量与所述内存插槽的接触点的总数量相同，一个接触点对应连接一个所述测试端子，从而利用所述测试端子来替代内存金手指进行LLCR测试。本申请通过该测试基板，使得在对内存金手指进行LLCR测试时，通过将待测内存条插接于该测试基板上的内存插槽中，通过测量测试基板上每一对测试端子的接触阻抗值，达到对内存金手指的间接测量的目的，这样避免对内存金手指表面镀层造成损伤。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 llcr 测量方法 方法 | ||
【主权项】：
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