[发明专利]对微电子装置测试数据的编码及其相关方法、装置和系统在审
| 申请号： | 202110847712.7 | 申请日： | 2021-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN114078558A | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | J·M·约翰逊 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42;G11C29/40;G11C29/18;G11C29/24;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了对微电子装置的测试数据进行编码以及相关方法、装置和系统。一种存储器装置可以包含多个列平面和至少一个电路。所述至少一个电路可以被配置成接收针对所述存储器装置的所述多个列平面中的每个列平面的列地址的测试结果数据。所述至少一个电路还可以被配置成响应于所述多个列平面的多个位中的仅一个位未通过针对所述列地址的测试而将所述测试结果数据转换为第一结果。进一步地，所述至少一个电路可以被配置成响应于仅一个列平面未通过针对所述列地址的所述测试并且所述一个列平面的多于一个位有缺陷而将所述测试结果数据转换为第二结果。 | ||
| 搜索关键词： | 微电子 装置 测试数据 编码 及其 相关 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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