[发明专利]一种反熔丝单元结构、制备方法及电极结构的制备方法在审

专利信息
申请号: 202110852260.1 申请日: 2021-07-27
公开(公告)号: CN115692372A 公开(公告)日: 2023-02-03
发明(设计)人: 郑若成;王印权;郑良晨;胡君彪;郝新焱;洪根深;宋思德 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十八研究所
主分类号: H01L23/525 分类号: H01L23/525;H01L21/768
代理公司: 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 代理人: 杨强
地址: 214000 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种反熔丝结构,尤其是一种反熔丝单元结构、制备方法及电极结构的制备方法。一种反熔丝单元结构,包括上阻挡层和反熔丝膜层,所述上阻挡层设置在所述反熔丝膜层上,所述反熔丝膜层设置在二氧化硅介质层上,且位于钨塞柱的上方。本发明提供的一种反熔丝单元结构优化了反熔丝单元的底部结构,去除反熔丝单元结构的下极板阻挡层,使得反熔丝叠层腐蚀工艺容宽显著扩大,对工艺过程中的缺陷耐受能力增强,提升反熔丝单元结构的良率。
搜索关键词: 一种 反熔丝 单元 结构 制备 方法 电极
【主权项】:
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