[发明专利]集成电路板测试点布局方法及其系统在审
申请号: | 202110869307.5 | 申请日: | 2021-07-30 |
公开(公告)号: | CN113808072A | 公开(公告)日: | 2021-12-17 |
发明(设计)人: | 任成成 | 申请(专利权)人: | 吟雪情枫信息科技(上海)有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201100 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本申请公开了一种集成电路板测试点布局方法,其基于深度学习的方式,通过卷积神经网络模型挖掘出代表电子零件的各个接入点及其之间的走线的潜在特征,并进一步通过概率模型来判断出每个点是否应设置测试点的概率,从而对测试点进行合理布局,以兼顾测试效率和精确性。 | ||
搜索关键词: | 集成 电路板 测试 布局 方法 及其 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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