[发明专利]基于延时的数字测试码型生成方法在审
| 申请号： | 202110873222.4 | 申请日： | 2021-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN113640656A | 公开（公告）日： | 2021-11-12 |
| 发明（设计）人： | 戴志坚;杨万渝;惠佳成 | 申请（专利权）人： | 四川芯测电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3183 | 分类号： | G01R31/3183 |
| 代理公司： | 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218 | 代理人： | 詹权松 |
| 地址： | 611730 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于延时的数字测试码型生成方法，包括以下步骤：一：测试向量抽象，将原始信号A的测试波形进行向量抽象，获得具有若干个周期波形原始信号A；二：测试码型合成，对原始信号A进行延迟处理，分别获得第一延迟信号B和第二延迟信号C，并对第一延迟信号B和第二延迟信号C进行逻辑处理生成脉冲信号D。本发明能满足数字IC的工作频率要求，同时可以提高在数字IC支持的范围内测试码型的生成速度，节约了测试时间，可产生最高200Mbps，边沿定位分辨率最高39ps的数字测试码型，为精确控制发送的测试向量提供了保证，有利于更为合理地指定测试方案、编写测试向量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 延时 数字 测试 生成 方法 | ||
【主权项】：
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