[发明专利]低功耗验证方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110875334.3 | 申请日： | 2021-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN113723033A | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 索健 | 申请（专利权）人： | 北京爱芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/327 | 分类号： | G06F30/327;G06F30/33 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张梦瑶 |
| 地址： | 100190 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提出一种低功耗验证方法、装置、电子设备及存储介质，其中方法包括：确定系统级芯片的寄存器传输级RTL模型以及低功耗模式下的控制逻辑测试用例；按照控制逻辑测试用例以及RTL模型，对系统级芯片进行RTL仿真阶段的仿真验证；在RTL仿真阶段验证成功时，根据RTL模型生成系统级芯片的统一电源格式UPF模型，按照控制逻辑测试用例以及UPF模型对系统级芯片进行RTL+UPF仿真阶段的仿真；在RTL+UPF仿真阶段验证成功时，根据UPF模型生成系统级芯片的PG网表，按照控制逻辑测试用例以及PG网表对系统级芯片进行PG网表仿真阶段的仿真，以确定在PG网表仿真阶段是否验证成功。该方法能够单独对RTL进行验证，解决低功耗验证盲点，降低调试RTL的复杂度。 | ||
| 搜索关键词： | 功耗 验证 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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