[发明专利]半导体封装件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202110890563.2 申请日: 2021-08-04
公开(公告)号: CN114068514A 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 姜命衫;高永璨;郑泰成 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L25/18 分类号: H01L25/18;H01L23/31;H01L21/56;H01L21/60;H01L23/488
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 赵南;张帆
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种半导体封装件和关联的方法,所述封装件包括:衬底;第一半导体芯片和第二半导体芯片,其位于衬底上;以及外部端子,其位于衬底下方,其中,衬底包括:核心部分;第一堆积部分和第二堆积部分,其位于核心部分的顶表面和底表面上,第一堆积部分和第二堆积部分包括电介质图案和线图案;以及插入器芯片,其位于核心部分中的嵌入区中,并且电连接至第一堆积部分和第二堆积部分,插入器芯片包括基体层;重新分布层,其位于基体层上;以及过孔件,其穿透基体层,过孔件连接至重新分布层,并且在基体层的表面处被暴露,重新分布层连接至第一堆积部分的线图案,并且过孔件连接至第二堆积部分的线图案。
搜索关键词: 半导体 封装 及其 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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