[发明专利]测试图形的验证方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110925359.X | 申请日： | 2021-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN113627122A | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 吴彬 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨泽;臧建明 |
| 地址： | 230011 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种测试图形的验证方法、装置、设备及存储介质，可应用于芯片版图验证领域。该验证方法包括：通过获取测试图形的配置文件，验证配置文件是否满足设计规则要求，得到第一验证结果，输出第一验证结果。其中配置文件包括设计人员为测试图形配置的多项约束条件，第一验证结果用于指示测试图形是否有效。上述验证过程是在执行配置文件之前，先对配置文件进行验证，只要发现一项不满足标准设计规则要求，则判定测试图形无效，可提高测试图形验证的效率和准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 图形 验证 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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