[发明专利]半导体存储装置在审

专利信息
申请号: 202110947764.1 申请日: 2021-08-18
公开(公告)号: CN115117072A 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 前嶋洋 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: H01L27/11529 分类号: H01L27/11529;H01L27/11548;H01L27/11556;H01L27/11573;H01L27/11575;H01L27/11582;G11C5/06;G11C7/06;G11C7/18;G11C16/04
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 杨林勳
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种能够缩小芯片面积的半导体存储装置。实施方式的半导体存储装置具备:第1及第2存储单元(MT),设置在衬底上方;位线(BL0),在Y方向上延伸,与第1存储单元电连接;第1贴合焊垫(BP1、BP2),与位线(BL0)电连接;感测放大器(SA0),与第1贴合焊垫电连接,对位线(BL0)的电压进行感测;位线(BL1),与位线(BL0)相邻地在Y方向上延伸,与第2存储单元电连接;第2贴合焊垫(BP1、BP2),与位线(BL1)电连接;以及感测放大器(SA1),与第2贴合焊垫电连接,对位线(BL1)的电压进行感测。第1贴合焊垫与第2贴合焊垫相邻而在Y方向上排列,感测放大器(SA0)与感测放大器(SA1)相邻而在与Y方向交叉的X方向上排列。
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【主权项】:
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