[发明专利]一种FPGA芯片测试平台和FPGA芯片测试方法在审
| 申请号： | 202110964376.4 | 申请日： | 2021-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN113671349A | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 杨萌 | 申请（专利权）人： | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人： | 刘小峰;杨帆 |
| 地址： | 250000 山东省济南市中国（山东）自由贸*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种FPGA芯片测试平台，包括：激励产生发送的代理模块，配置用于产生随机激励序列；参考模型，配置用于接收激励产生发送的代理模块产生的随机激励序列，并基于随机激励序列生成目标数据；以及计分板，配置用于将参考模型生成的目标数据和FPGA芯片的输出数据进行对比，以得到测试结果；其中，激励产生发送的代理模块与FPGA芯片通过串行协议接口相连，激励产生发送的代理模块向FPGA芯片发送随机激励序列，并接收FPGA芯片的输出数据。本发明还公开了一种FPGA芯片测试方法。本发明可以降低测试工作量，提高测试效率，并且其复用的特点适应不同测试模块的激励产生，大大减少了重复性劳动。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 fpga 芯片 测试 平台 方法 | ||
【主权项】：
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