[发明专利]具有共用金属栅极并且具有带有偶极子层的栅极电介质的环绕栅集成电路结构的制造在审

专利信息
申请号: 202110966041.6 申请日: 2021-08-23
公开(公告)号: CN114256236A 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: D·S·拉夫里克;D·M·克鲁姆;O·戈隆茨卡;T·加尼 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L21/8238;B82Y10/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 舒雄文
地址: 美国加*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 描述了具有共用金属栅极并且具有带有偶极子层的栅极电介质的环绕栅集成电路结构。例如,集成电路结构包括水平纳米线的第一垂直布置和水平纳米线的第二垂直布置。第一栅极堆叠体在所述水平纳米线的第一垂直布置之上,所述第一栅极堆叠体是在第一栅极电介质上具有P型导电层的PMOS栅极堆叠体,所述第一栅极电介质包括在第一偶极子材料层上的高k电介质层。第二栅极堆叠体在所述水平纳米线的第二垂直布置之上,所述第二栅极堆叠体是在第二栅极电介质上具有所述P型导电层的NMOS栅极堆叠体,所述第二栅极电介质包括在第二偶极子材料层上的所述高k电介质层。
搜索关键词: 具有 共用 金属 栅极 并且 带有 偶极子 电介质 环绕 集成电路 结构 制造
【主权项】:
暂无信息
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