[发明专利]非易失性存储器装置及对其单元进行计数的方法在审
| 申请号： | 202110966900.1 | 申请日： | 2021-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN114255797A | 公开（公告）日： | 2022-03-29 |
| 发明（设计）人： | 金珉奭;金炯坤 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C8/04 | 分类号： | G11C8/04;G11C7/06;G11C16/08 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 黄晓燕;张川绪 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了非易失性存储器装置及对其单元进行计数的方法。在对非易失性存储器装置中的存储器单元的数量进行计数的方法中，将用于单元计数操作的测量窗的测量范围和多个测量区间分别设置为第一范围和多个第一区间。所述多个测量区间包括在测量范围中。基于测量窗对包括在存储器单元阵列的第一区域中的第一存储器单元执行第一感测操作。在测量范围的宽度和多个测量区间中的每个的宽度被保持的同时，执行用于移位测量窗的第一移位操作。基于通过第一移位操作移位的测量窗对第一存储器单元执行第二感测操作。基于第一感测操作的结果和第二感测操作的结果来获得第一存储器单元的最终计数值。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失性存储器 装置 单元 进行 计数 方法 | ||
【主权项】：
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