[发明专利]器件性能测试方法、装置、存储介质和电子设备在审
| 申请号： | 202110988238.X | 申请日： | 2021-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN113740693A | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 梁赛嫦;吴佳蒙;郭依腾;曾丹 | 申请（专利权）人： | 珠海零边界集成电路有限公司;珠海格力电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;B07C5/344;B07C5/36 |
| 代理公司： | 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 | 代理人： | 曾军;吴雪 |
| 地址： | 519015 广东省珠海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种器件性能测试方法、装置、存储介质和电子设备。该方法包括：获取目标器件在第一电压下的第一漏电值和在第二电压下的第二漏电值；和/或获取目标器件在第一电流下的第一耐压值和在第二电流下的第二耐压值；在第一漏电值与第二漏电值的差的绝对值大于第一阈值或者第一耐压值与第二耐压值的差的绝对值大于第二阈值的情况下，确定目标器件为不合格器件。本发明解决了器件性能测试效率低的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 器件 性能 测试 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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