[发明专利]一种芯片故障测试装置、系统及方法在审
| 申请号： | 202110990088.6 | 申请日： | 2021-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN113900006A | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | 邓路超;谢树平;王萌 | 申请（专利权）人： | 湖南艾科诺维科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人： | 赵朕毅 |
| 地址： | 410000 湖南省长沙市开福区伍家岭*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片故障测试装置、系统及方法，装置包括测试板卡，所述测试板卡上设有用于安装被测试的ADC芯片的ADC芯片测试座和用于安装被测试的DAC芯片的DAC芯片测试座，还设有信号输入端口和信号输出端口，所述信号输入端口依次通过被测试的ADC芯片以及被测试的DAC芯片和信号输出端口连接并形成测试通道。本发明无需FPGA参与故障测试，可以简化测试流程并快速验证被测试的ADC芯片以及被测试的DAC芯片是否存在故障。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 故障测试 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
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