[发明专利]存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质在审
| 申请号： | 202110990723.0 | 申请日： | 2021-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN115719610A | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 郭上春;梁冬柳 | 申请（专利权）人： | 深圳市江波龙电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 何倚雯 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区科发路8*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及存储设备测试技术领域，公开了存储设备的测试方法、测试设备以及可读存储介质。该方法包括：获取待测试存储设备的参数信息；根据参数信息设置测试参数；其中，测试参数至少包括测试逻辑块大小、测试逻辑块的倍数以及读写测试的次数；利用测试参数对待测试存储设备进行wordline page测试；采集测试过程中的日志信息，基于日志信息得到测试结果。通过上述方式，能够提高测试结果的准确性和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 设备 测试 方法 以及 可读 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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