[发明专利]一种光学检测装置、成像方法和智能双面检测系统在审
申请号: | 202111017180.0 | 申请日: | 2021-08-31 |
公开(公告)号: | CN113740260A | 公开(公告)日: | 2021-12-03 |
发明(设计)人: | 温延培;杨云仙;刘华雷;刘洋;曹葵康;徐一华 | 申请(专利权)人: | 苏州天准科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/95 |
代理公司: | 北京千壹知识产权代理事务所(普通合伙) 11940 | 代理人: | 郭士磊 |
地址: | 215153 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种光学检测装置、成像方法和智能双面检测系统,属于半导体、线路板等板状器件的上料检测系统领域,装置包括图像采集模组、光源模组和移动载台,图像采集模组采用在XZ平面内受控移动的线扫相机进行图像采集,移动载台在Y轴方向受控的移动送料;图像采集模组与图像处理器电讯连接,通过图像处理算法对获取的图像进行尺寸和瑕疵的量检测。其中,光学检测装置结构简单紧凑,根据待测件的宽幅可调的模块化设置。光源模组采用带缝隙灯条,高度可调,便于针对不同厚度和宽幅的待测件提供稳定的光照环境;综上提高了检测准确度和效果,为线路板、硅片等需要双面检的板件提供了技术支撑,便于推广应用。 | ||
搜索关键词: | 一种 光学 检测 装置 成像 方法 智能 双面 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州天准科技股份有限公司,未经苏州天准科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202111017180.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种五轴联动轨迹误差溯源方法
- 下一篇:一种综采工作面排放孔钻机