[发明专利]芯片、芯片总线的检测系统、检测方法及存储介质在审
| 申请号： | 202111028333.1 | 申请日： | 2021-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN113778734A | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | 唐平 | 申请（专利权）人： | 上海砹芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/07 | 分类号： | G06F11/07 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 罗岚 |
| 地址： | 201210 上海市中国（上海）自*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提出一种芯片、芯片总线的检测系统、检测方法及存储介质，所述系统包括：调试接口、调试总线、至少一个总线检测单元和控制器，其中，每个总线检测单元的第一端与每个总线单元相连，每个总线检测单元的第二端与每个总线单元对应的总线节点相连，每个总线检测单元的第三端通过调试总线与调试接口的第一端相连，调试接口的第二端与控制器相连；控制器用于在芯片总线出现异常的情况下，通过调试接口和调试总线，访问每个总线检测单元，以获取每个总线检测单元的信息，并根据每个总线检测单元的信息，定位芯片总线出现异常的地址。由此，该系统能够在芯片的总线发生异常时，加快定位异常的芯片总线地址的速度，提升了调试芯片的效率和有效性。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 总线 检测 系统 方法 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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