[发明专利]一种非高温连接温度传感器的封装方法在审

专利信息
申请号: 202111030162.6 申请日: 2021-09-03
公开(公告)号: CN113814504A 公开(公告)日: 2021-12-21
发明(设计)人: 何凯;汪民;许玉方;赵克荣 申请(专利权)人: 广州德芯半导体科技有限公司
主分类号: B23K1/00 分类号: B23K1/00;B23K1/20;B23K35/24
代理公司: 广州科沃园专利代理有限公司 44416 代理人: 曾美萍
地址: 510000 广东省广州市番禺*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种非高温连接温度传感器的封装方法,其采用高银含量(Ag含量高达40~60%)的复合钎料,在真空条件加热保温实现瞬时液相扩散焊接并且旋转磁场辅助焊接。此方法可使本发明的步骤(3)电子器件的基板连接可以在低于服役温度(60℃到100℃)以下进行,相对于在服役温度下操作,本发明的方法更加方便及容易操作,无需在加热的环境中进行本发明的连接难度也大为降低,因而本发明能有效地减少高温器件封装难度,减少加工成本,并且封装的电子嵌件服役性能更加优异,更耐高温。
搜索关键词: 一种 高温 连接 温度传感器 封装 方法
【主权项】:
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