[发明专利]高精度对位靶标的加工方法在审
申请号: | 202111069505.X | 申请日: | 2021-09-13 |
公开(公告)号: | CN113891581A | 公开(公告)日: | 2022-01-04 |
发明(设计)人: | 卢赛辉;刘蔡友;叶汉雄 | 申请(专利权)人: | 惠州中京电子科技有限公司 |
主分类号: | H05K3/46 | 分类号: | H05K3/46;H05K3/00 |
代理公司: | 惠州市超越知识产权代理事务所(普通合伙) 44349 | 代理人: | 陈文福 |
地址: | 516029 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请是关于一种高精度对位靶标的加工方法。该方法包括:在覆铜板的第一线路层上覆感光膜;利用第一菲林对第一线路层进行曝光处理,使得第一线路层上第一靶标区的感光膜固化,第一靶标隔离区的感光膜不固化;第一靶标区是嵌套于第一靶标隔离区中部的圆形区域;对曝光处理后的第一线路层进行显影处理;对显影处理后的第一线路层进行蚀刻处理,得到与第一靶标区尺寸相匹配的圆形铜箔;在第一线路层上压合铜箔,得到第二线路层;通过镭射烧靶将第二线路层对位区的铜箔清除,使得第一靶标区和第一靶标隔离区露出于第二线路层,以圆形铜箔作为第二线路层的对位靶标。本申请提供的方案,能够提升靶标的真圆度,提高抓靶质量。 | ||
搜索关键词: | 高精度 对位 靶标 加工 方法 | ||
【主权项】:
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